Tentang Alat

Field Emission Scanning Electron Microscopy (FE-SEM) merupakan teknik mikroskopi yang menghasilkan citra permukaan sampel padat dengan resolusi tinggi menggunakan elektron dari sumber emisi medan. FE-SEM digunakan untuk menganalisis berbagai material padat seperti logam, keramik, polimer, semikonduktor, nanomaterial, dan biomaterial, memberikan detail mendalam tentang struktur mikro, tekstur permukaan, dan komposisi material. Dengan kemampuan untuk mendeteksi sinar-X yang dipancarkan oleh sampel (menggunakan EDX), FE-SEM memungkinkan karakterisasi yang sangat akurat, yang berguna dalam penelitian material, pengembangan produk, dan kontrol kualitas di berbagai industry.

Model

Fungsi

Untuk memeriksa permukaan sampel dengan resolusi yang sangat tinggi, biasanya pada tingkat nanometer yang dapat menghasilkan gambar tiga dimensi dari permukaan sampel

Jenis Sampel