Tentang Alat

Atomic Force Microscope (AFM)  merupakan alat yang digunakan untuk memindai permukaan sampel padat dengan resolusi nanometer menggunakan ujung tajam yang mengukur gaya interaksi dengan permukaan. AFM sangat berguna untuk menganalisis topografi, kekasaran, dan sifat mekanik material seperti logam, polimer, keramik, dan nanomaterial, memberikan detail pada tingkat mikro dan nano tanpa memerlukan sampel cair. Teknik ini juga dapat mengukur kekuatan gesekan dan modulus elastisitas material, berguna dalam penelitian material dan pengembangan teknologi nano.

Model

Fungsi

Salah satu jenis mikroskop yang digunakan untuk mempelajari permukaan sampel pada resolusi yang sangat tinggi, hingga tingkat atom.

Jenis Sampel